000 01170nam0a22003251 4500
001 rc\3654594
005 20130115150128.4
021 _aRU
_b[72-91142]
035 _a(NLR Aleph) 007834992
090 _a9765681
_c9765681
100 _a20130115d1972 |||y0rusy50 ca
101 1 _arus
_ceng
102 _aRU
105 _aa z |||||
200 1 _aАвтоионная микроскопия
_e(Принципы и применение)
_fПер. с англ. В.А. Алексеева [и др.]
_gПод ред. Л.П. Потапова
210 _aМосква
_cМеталлургия
_d1972
215 _a360 с., 1 л. ил.
_cил.
_d22
300 _aДоп. тит. л.: Field ion microscopy. Erwin W. Müller and Tien Tzou Tsong
320 _aСписки лит. в конце глав
513 0 _aField ion microscopy
606 _aИонная микроскопия
_2psbo
700 1 _aМюллер
_bЭ. В.
701 1 _aЦонь
_bТ. Ц.
702 1 _aАлексеев
_bВ. А.
_4730
702 1 _aПотапов
_bЛ. П.
_4340
801 0 _aRU
_bNLR
_gpsbo
801 1 _aRU
_bELAR
_2rusmarc
852 _aNLR
_j72-5/4336
942 _cBOOK
980 _aNB