000 01801nam0a2200337 4500
001 RU\NLR\bibl\1671467
005 20250616044533.0
010 _a5-98298-201-6
_9500
021 _aRU
_b2010-58612
_93839
035 _a(NLR Aleph) 001662724
090 _a991873
_c991873
100 _a20091126d2008 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aМикропроцессоры и цифровые системы в неразрушающем контроле
_eучебное пособие
_e[по направлению "Неразрушающий контроль"]
_fЮ.В. Алхимов
_gФедер. агентство по образованию, Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Томс. политехн. ун-т"
210 _aТомск
_cИзд-во Томского политехнического университета
_d2008
215 _a244 с.
_cил.
_d21
225 1 _aПриоритетные национальные проекты
_iОбразование
225 1 _aИнновационная образовательная программа
300 _aНа 4-й с. обл. авт.: Алхимов Ю.В., к.т.н., доц.
320 _aБиблиогр.: с. 242 (20 назв.)
606 1 _aДефектоскопия
_jУчебные издания для высших учебных заведений
_xАппараты и приборы
_xАвтоматизация
_92499560
_3RU\NLR\auth\661482578
686 _aЖ3-1с3-5-05я73-1
700 1 _aАлхимов
_bЮ. В.
_gЮрий Васильевич
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_c20091126
_gRCR
801 1 _aRU
_bNLR
_c20091126
830 _aпо кн
942 _cBOOK
980 _aNB