Описание RUSMARC Карточка

Рентгеновская спектроскопия для исследования состава и структуры пористого кремния, учебное пособие, для студентов, изучающих дисциплины "Рентгеновская и электронная спектроскопия", "Методы диагностики и анализа микро- и наносистем", "Синхротронные исследования наноструктур и наноматериалов", "Основные материалы наноэлектроники"

- 100 экз.978-5-9273-2912-0/[КН-П-20-085527]/русский (rus)/Рентгеновская спектроскопия для исследования состава и структуры пористого кремния : учебное пособие : для студентов, изучающих дисциплины "Рентгеновская и электронная спектроскопия", "Методы диагностики и анализа микро- и наносистем", "Синхротронные исследования наноструктур и наноматериалов", "Основные материалы наноэлектроники" / С.Ю. Турищев, В.А. Терехов, О.А. Чувенкова [и др.] ; Министерство науки и высшего образования РФ, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный университет".Рентгеновская спектроскопия для исследования состава и структуры пористого кремния : учебное пособие : для студентов, изучающих дисциплины "Рентгеновская и электронная спектроскопия", "Методы диагностики и анализа микро- и наносистем", "Синхротронные исследования наноструктур и наноматериалов", "Основные материалы наноэлектроники" / С.Ю. Турищев, В.А. Терехов, О.А. Чувенкова [и др.].Рентгеновская спектроскопия для исследования состава и структуры пористого кремния : учебное пособие : для студентов, изучающих дисциплины "Рентгеновская и электронная спектроскопия", "Методы диагностики и анализа микро- и наносистем", "Синхротронные исследования наноструктур и наноматериалов", "Основные материалы наноэлектроники".Воронеж/Издательский дом ВГУ/, 2019 ( ). - Издательский дом ВГУ, 2019. - 99, [1] с. : ил., табл. ; 20 см.Рентгеновская спектроскопия для исследования состава и структуры пористого кремния : учебное пособие : для студентов, изучающих дисциплины "Рентгеновская и электронная спектроскопия", "Методы диагностики и анализа микро- и наносистем", "Синхротронные исследования наноструктур и наноматериалов", "Основные материалы наноэлектроники". Воронеж, 2019 .
     Авт. указаны на обороте тит. с. - Библиогр.: с. 89-99 (97 назв.). Библиогр.: с. 89-99 (97 назв.).Кремний пористый -- Наноструктуры -- Рентгеновская спектроскопия -- Учебные издания для высших учебных заведений/З843.322.4-1с344я73-1/Л253.2я73-1/Турищев, Сергей Юрьевич /Терехов, Владимир Андреевич /Чувенкова, Ольга Александровна /Воронежский государственный университет /