Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova, учебное пособие, для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 - "Техническая физика"
- 50 экз.978-5-7422-8903-6/[КН-П-25-044182]/русский (rus)/Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova = Conducting research by diffraction methods using the SuperNova diffractometer system : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 - "Техническая физика" / А. Е. Ганжа, А. Ф. Вакуленко, М. А. Князева [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт электроники и телекоммуникаций, Высшая инженерно-физическая школа.Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 - "Техническая физика" / А. Е. Ганжа, А. Ф. Вакуленко, М. А. Князева [и др.].Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova = Conducting research by diffraction methods using the SuperNova diffractometer system : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 - "Техническая физика".Санкт-Петербург/Политех-пресс/Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого/, 2025 ( ). - Политех-пресс, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2025. - 82, [1] с. : ил., цв. ил., табл. ; 20 см.Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 - "Техническая физика". Санкт-Петербург, 2025 .
Авт. также на англ. яз.: A. E. Ganzha, A. F. Vakulenko, M. A. Knuazeva [et al.]. - Авт. указаны на обороте тит. с. - Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 74 (4 назв.). Библиогр.: с. 74 (4 назв.).Conducting research by diffraction methods using the SuperNova diffractometer system/SUPERNOVA, дифрактометр рентгеновский -- Учебные издания для высших учебных заведений/В371.213я73-1/Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Институт электроники и телекоммуникацийВысшая инженерно-физическая школа /
Авт. также на англ. яз.: A. E. Ganzha, A. F. Vakulenko, M. A. Knuazeva [et al.]. - Авт. указаны на обороте тит. с. - Рез. на англ. яз. - Библиогр.: с. 74 (4 назв.). Библиогр.: с. 74 (4 назв.).Conducting research by diffraction methods using the SuperNova diffractometer system/SUPERNOVA, дифрактометр рентгеновский -- Учебные издания для высших учебных заведений/В371.213я73-1/Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Институт электроники и телекоммуникацийВысшая инженерно-физическая школа /