Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки
82-4/29583 русский (rus)/Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки .Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки.Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки.Киев/ИТФ/, 1982 ( ). - ИТФ, 1982. - 29 с. : ил. ; 20 см. - (Препринт / Ин-т теорет. физики ; ИТФ-82-83Р).Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки. Киев, 1982 .
Библиогр.: с. 28-29 (15 назв.). Библиогр.: с. 28-29 (15 назв.).
Библиогр.: с. 28-29 (15 назв.). Библиогр.: с. 28-29 (15 назв.).