Описание RUSMARC Карточка

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

80-5/191 русский (rus)/Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Отв. ред. Л.С. Смирнов.Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Отв. ред. Л.С. Смирнов.Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках.Новосибирск/Наука. Сиб. отд-ние/, 1979 ( ). - Наука. Сиб. отд-ние, 1979. - 159 с. : ил. ; 21 см.Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках. Новосибирск, 1979 .
     В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.). Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.).Полупроводники -- Трение внутреннее/Полупроводники -- Дефекты/psbo/psbo/В379.256,0/В379.222,0/ Александров, Л.Н., Леонид Наумович .Л.Н.Леонид НаумовичЗотов, Михаил Иванович /Смирнов, Леонид Степанович, Редактор (д-р физ.-мат. наук, физика полупроводников; 1932-2011)/
Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru