Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок
96-3/7418 - 300 экз.5-7558-0179-7/русский (rus)/Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок / В.А. Бушуев, Р.Н. Кютт, Ю.П. Хапачев ; Под ред. Ю.П. Хапачева ; Кабард.-Балк. гос. ун-т.Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок / В.А. Бушуев, Р.Н. Кютт, Ю.П. Хапачев.Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок.Нальчик/КБГУ/, 1996 ( ). - КБГУ, 1996. - 178, [2] с. : ил. ; 21 см.Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок. Нальчик, 1996 .
Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.). Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.).
Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.). Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.).