Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ, (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.)
П51/94 русский (rus)/Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.) / Ю.А. Матвеев, В.Е. Батурин, А.Г. Овденко.Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.) / Ю.А. Матвеев, В.Е. Батурин, А.Г. Овденко.Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.).М./Изд-во ЦНИИ "Электроника"/, 1984 ( ). - Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1984. - 56 с. : ил. ; 20 см. - (Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника" ; Вып. 1049 ; Вып. 7).Метод многокристальной рентгеновской дифрактометрии и технологии контроля процессов изготовления ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970-1983 гг.). М., 1984 .
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР. - Библиогр.: с. 49-55. Библиогр.: с. 49-55.
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР. - Библиогр.: с. 49-55. Библиогр.: с. 49-55.