Semiconductor devices measurements and tests
Т95 Д-3/187 английский/Semiconductor devices measurements and tests / G. Grin ; Transl. from the Russ. by Alexander Repyev.Semiconductor devices measurements and tests / G. Grin.Semiconductor devices measurements and tests. - Rev. from the 1978 Russ. 3d ed.M./Mir/, 1980 ( ). - Mir, 1980. - 208 с. : ил. ; 21 см см.Semiconductor devices measurements and tests. Rev. from the 1978 Russ. 3d ed.M., 1980 .
Доп. тит. л. на рус. яз.: Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов / Г. И. Грин. - Библиогр.: с. 208. Библиогр.: с. 208.З852-07/
Доп. тит. л. на рус. яз.: Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов / Г. И. Грин. - Библиогр.: с. 208. Библиогр.: с. 208.З852-07/