([200] ИМЯ ЛИЦА)

Аспирант Нац. исслед. ун-та "Моск. ин-т электрон. техники". Обл. науч. интересов: рентгеновские методы анализа многослойных структур, радиационная стойкость наноструктур. Соавтор научных работ и учебных пособий, выполненных в МИЭТ..