Ч. 4 / В.С. Данилов, Ю.Н. Раков
Сводное описание: Анализ процессов в полупроводниковых устройствахЯзык: русский.Выходные данные: Б. м., 2011Физическая характеристика: 78 с. : ил.ISBN: 978-5-7782-1618-1 Библиография: Библиогр.: с. 75-78 (51 назв.).Коллекция: Национальная библиография ; НБР Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-4/32467 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2705 | Доступно | 3435347 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-4/32467 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2705 | Доступно | 3435348 |
Библиогр.: с. 75-78 (51 назв.)