Исследование контура обертонной спектральной линии HF, уширенной Ar, Xe, Kr, N2, методом диодной лазерной спектроскопии / Ш.Ш. Набиев., С.В. Иванов, Я.Я. Понуровский, В.М. Семенов
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: Москва : Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", 2012Физическая характеристика: 15 с. : ил. ; 22 см.ISBN: 9785904437268 Серия: Препринт ; ИФЭ-6729/12Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 14-15 (19 назв.).Предметная рубрика - Тема: Фтористый водород -- Определение -- Лазерной спектроскопии метод | Фтористый водород -- Спектры | Окружающая среда -- Загрязнение отходами радиохимических производств Другие классификации: Г461.31-94:7 ; Л363.4-1с34 ; Г127.114-15Коллекция: НБР Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 14-15 (19 назв.)