Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г.Я. Красников, Н.А. Зайцев
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: М. : Микрон-Принт, 1999Физическая характеристика: 21 см.Предметная рубрика - Тема: Сверхбольшие интегральные схемы -- Качество Другие классификации: З844.15-021.1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи