Подробности: Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках

Книга

Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Отв. ред. Л.С. Смирнов

Автор: Александров, Леонид НаумовичАвтор (Альтер.): Зотов, Михаил ИвановичАвтор (Вторич.): Смирнов, Леонид Степанович (д-р физ.-мат. наук, физика полупроводников ; 1932-2011), Редактор Язык: русский.Выходные данные: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние, 1979Физическая характеристика: 159 с. : ил. ; 21 см.Примечания: В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников.Библиография: Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Трение внутреннее | Полупроводники -- ДефектыДругие классификации: ( ) В379.256,0 ; ( ) В379.222,0Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года	80-5/191 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		6521662-20

В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников

Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.)