Методы измерения параметров полупроводников : [Курс лекций; В 3 ч.] / Под ред. д-ра техн. наук проф. С.С. Горелкина. Ч. 1-3 ; Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1970-1973Физическая характеристика: 21 см. Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи