Физико-химические методы контроля и технологические способы обработки материалов в микроэлектронике : Материалы Первого симпозиума (11-13 ноября 1969 г.) / Науч. ред. канд. хим. наук С.А. Кутолин
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1969Физическая характеристика: 124 с. ; 20 см.Серия: Министерство электронной промышленности СССР. Институт "Электроника". Труды конференций по электронной технике ; Вып. 2Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П11/2650 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7400540-10 |
Отпеч. множит. аппаратом