Подробности: Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок

Книга

Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок / В.А. Бушуев, Р.Н. Кютт, Ю.П. Хапачев ; Под ред. Ю.П. Хапачева ; Кабард.-Балк. гос. ун-т

Автор: Бушуев, Владимир АлексеевичАвтор (Альтер.): Кютт, Регинальд Николаевич ;
Хапачев, Юрий ПшикановичАвтор (Вторич.): Хапачев, Юрий Пшиканович, РедакторЯзык: русский.Выходные данные: Нальчик : КБГУ, 1996Физическая характеристика: 178, [2] с. : ил. ; 21 см.ISBN: 5-7558-0179-7 Библиография: Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.).Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года	96-3/7418 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		5406462-10

Библиогр.: с. 171-178 (260 назв.)