Подробности: Методы контроля, используемые в производстве тонкопленочных и твердых микросхем , Обзор по материалам отечеств. и зарубежной печати за 1960-1965 гг.

Книга

Методы контроля, используемые в производстве тонкопленочных и твердых микросхем : Обзор по материалам отечеств. и зарубежной печати за 1960-1965 гг. / Сост.: Невский, Ю.А., Нудельман, А.С., Трубецкой, А.И. ; М-во электронной пром-сти СССР. Центр. науч.-исслед. ин-т техн.-экон. исследований и науч. информации

Автор: Невский, Ю. А., СоставительАвтор (Альтер.): Нудельман, А. С., Составитель ;
Трубецкой, А. И., СоставительЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1967Физическая характеристика: 62 с. : ил. ; 21 см.Серия: Обзоры научно-технической литературы по электронной технике ; № 12 (1966 г.)Примечания: На обл. авт. не указаны.Библиография: Библиогр.: с. 61.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский журнальный фонд	П10/3313 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		8825537-10

На обл. авт. не указаны

Библиогр.: с. 61