An express method for determination of crystal perfection using synchrotron radiation / I. P. Karabekov, D. L. Egikian, R. A. Mikaelian et al. ; [Пер. Папяна Г. А.]
Язык: английский ; резюме, армянский ; резюме, русский ; основного заглавия, английский ; главного источника информации, английский ; главного источника информации, армянский ; главного источника информации, русский.Выходные данные: [М.] ; Ереван : ЦНИИ атоминформ ; Ерев. физ. ин-т, 1988Физическая характеристика: 11 с. : ил. ; 20 см см.Серия: Preprint ; YERPHI-1117(80)-88Примечания: В вып. дан.: Метод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения / И. П. Карабеков и др.; Надзаг. также на арм. и рус. яз.; Рез. на арм. и рус. яз..Библиография: Библиогр.: с. 11.Предметная рубрика - Тема: Кристаллы -- Дефекты -- ИсследованияДругие классификации: ( ) В371.231 ; ( ) В371.213Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Фз01 Д-4/5307 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9295439-10 |
В вып. дан.: Метод экспрессного определения степени нарушенности кристаллов с использованием синхротронного излучения / И. П. Карабеков и др.
Надзаг. также на арм. и рус. яз.
Рез. на арм. и рус. яз.
Библиогр.: с. 11