Ваш поиск дал 4 результатов

Результаты поиска
	1.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных = Modern methods of diffraction data analysis : (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : программа и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22-25 мая 2006 г. / [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев]2006Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2006-8/2147 (2). Добавить в подборку (удалить)
	2.		КнигаПросвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов : [учебник] / Б. Фульц, Дж.М. Хау ; пер. с англ. [3-го изд.] В.И. ДаниленкоФульц, Брент (1982-), АвторХау, Джеймс М. (1985-), Автор2011Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2011-7/6532 (3), РНБ (Садовая)Шифр хранения: У Ж3-1/Ф-945 (1). Добавить в подборку (удалить)
	3.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / [Сост. В.А. Ткаль]2004Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2004-8/2228 (2). Добавить в подборку (удалить)
	4.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных = Modern Methods of diffraction data Analysis : (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев]2007Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2007-8/2712 (2). Добавить в подборку (удалить)

Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru