Обзоры по электронной технике. Вып.725: Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий, (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.)
русский (rus)/Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанова.Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанова.Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.).Б. м./, 1980 ( ). - 1980. - (... ; Вып.725 ; 1980, Вып.2).Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.). Б. м., 1980 .Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"Вып.725