Обзоры по электронной технике. Вып.725: Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1970- 1977 г.г.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанова
Сводное описание: Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"Язык: русский.Выходные данные: Б. м., 1980Серия: ; Вып.725Коллекция: Национальная библиография ; Русская периодика Тип экземпляра: ВыпускНет реальных экземпляров для этой записи