Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках, [Сб. ст.]
П7/2089 русский (rus)/Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [Сб. ст.] / Отв. ред. д. ф.-м. н. А.А. Маненков.Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [Сб. ст.] / Отв. ред. д. ф.-м. н. А.А. Маненков.Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [Сб. ст.].М./Наука/, 1986 ( ). - Наука, 1986. - 153 с. : ил. ; 24 см. - (Труды Института общей физики / АН СССР ; Т. 4).Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [Сб. ст.]. М., 1986 .
Библиогр. в конце ст. Библиогр. в конце ст.
Библиогр. в конце ст. Библиогр. в конце ст.