Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [Сб. ст.] / Отв. ред. д. ф.-м. н. А.А. Маненков
Язык: русский.Выходные данные: М. : Наука, 1986Физическая характеристика: 153 с. : ил. ; 24 см.Серия: Труды Института общей физики ; Т. 4Библиография: Библиогр. в конце ст..Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П7/2089 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5850176-10 |
Библиогр. в конце ст.