Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии
русский/Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии / В.В. Зуев, А.Н. Петровский, А.О. Сальник.Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии / В.В. Зуев, А.Н. Петровский, А.О. Сальник.Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии.М./МИФИ/, 1987 ( ). - МИФИ, 1987. - 23 с. : ил. ; 20 см. - (Препринт / М-во высш. и сред. спец. образования СССР, Моск. инж.-физ. ин-т ; 046-87).Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии. М., 1987 .
Библиогр.: с. 22. Библиогр.: с. 22.
Библиогр.: с. 22. Библиогр.: с. 22.