Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии / В.В. Зуев, А.Н. Петровский, А.О. Сальник
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИФИ, 1987Физическая характеристика: 23 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; 046-87Библиография: Библиогр.: с. 22. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 88-4/19178 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5710701-10 |
Библиогр.: с. 22