Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов
88-4/21488 русский (rus)/Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов / Л.И. Вершинина, С.З. Склюев, Г.И. Фролов и др.Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов / Л.И. Вершинина, С.З. Склюев, Г.И. Фролов и др.Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов.Красноярск/ИФ/, 1988 ( ). - ИФ, 1988. - 51 с. : ил. ; 20 см. - (Препринт / АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского ; № 520Ф).Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов. Красноярск, 1988 .
Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.). Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.).
Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.). Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.).