Методы электронной микроскопии при исследовании аморфных пленок и тонких кристаллов / Л.И. Вершинина, С.З. Склюев, Г.И. Фролов и др.
Язык: русский.Выходные данные: Красноярск : ИФ, 1988Физическая характеристика: 51 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; № 520ФБиблиография: Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.).Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 88-4/21488 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5735156-10 |
Библиогр.: с. 50-51 (20 назв.)