Описание RUSMARC Карточка

Методы исследования структуры полупроводников, Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей, (Курс лекций)

73-4/16534 73-4/16534 [[73-48359]]/русский (rus)/Методы исследования структуры полупроводников : Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей : (Курс лекций) / Под ред. проф. С.С. Горелика ; Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников.Методы исследования структуры полупроводников : Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей : (Курс лекций) / Под ред. проф. С.С. Горелика.Методы исследования структуры полупроводников : Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей : (Курс лекций).Москва/Б. и./, 1973 ( ). - Б. и., 1973. - 68 с. : черт. ; 20 см.Методы исследования структуры полупроводников : Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей : (Курс лекций). Москва, 1973 .
     Список лит.: с. 67-68 (19 назв.). Список лит.: с. 67-68 (19 назв.).Полупроводники -- Структура -- Исследование/psbo/ Дубровина, А.Н. .А.Н.Горелик, Семен Самуилович, Редактор (1911-2007)/