Подробности: Методы исследования структуры полупроводников , Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей , (Курс лекций)

Книга

Методы исследования структуры полупроводников : Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей; (Курс лекций) / Под ред. проф. С.С. Горелика ; Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников

Автор: Дубровина, А.Н.Автор (Вторич.): Горелик, Семен Самуилович (1911-2007), Редактор Язык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1973Физическая характеристика: 68 с. : черт. ; 20 см.Библиография: Список лит.: с. 67-68 (19 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Структура -- ИсследованиеКоллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года	73-4/16534 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		7504642-20
Книга	РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года	73-4/16534 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		7504642-10

Список лит.: с. 67-68 (19 назв.)