Физико-химические основы методов анализа чистых металлов и полупроводниковых материалов. Ч. 2
Сводное описание: Физико-химические основы методов анализа чистых металлов и полупроводниковых материалов : Конспект лекций : Ч. 1- / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра производства чистых металлов и полупроводниковых материаловЯзык: русский.Выходные данные: Б. м., 1970Физическая характеристика: 96 с. : черт.Библиография: Библиогр.: с. 95-96 (20 назв.).Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 70-3/5456 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7474548-10 |
Библиогр.: с. 95-96 (20 назв.)