Моделирование процессов электромиграции и зарождения дефектов в токопроводящих дорожках интегральных микросхем / А.С. Владимиров, Р.В. Гольдштейн, Ю.В. Житников и др.
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: М. : ИПМ, 1999Физическая характеристика: 65 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; N 652Библиография: Библиогр.: с. 62-65 (42 назв.).Предметная рубрика - Тема: Интегральные схемы -- Проводящие элементы -- Разрушение Другие классификации: З844.15-049.9-01Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2000-4/823 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 413 | Доступно | 26101 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2000-4/823 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 413 | Доступно | 26102 |
Библиогр.: с. 62-65 (42 назв.)