Ваш поиск дал 6 результатов

Результаты поиска
	1.		КнигаИсследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. БурухинаКарташев, В. А. -- АвторБурухина, Т. Ф. -- Автор2004Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2005-4/36138 (2). Добавить в подборку (удалить)
	2.		КнигаВлияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. БурухинаКарташев, В. А. -- АвторБурухина, Т. Ф. -- Автор2004Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2005-4/36139 (2). Добавить в подборку (удалить)
	3.		КнигаИсследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В.А. Карташев, В.В. КарташевКарташев, Владимир Алексеевич -- АвторКарташев, В. В. -- Автор2007Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2007-4/20014 (2). Добавить в подборку (удалить)
	4.		КнигаСканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А. М. Прохоров, Г. Я. Зуева, Н. В. Сережкина и др. ; ...Центр естеств.-науч. исслед.Прохоров, Александр Михайлович (1916-2002) -- Автор;Зуева, Г. Я. -- Автор;Сережкина, Н. В. -- Автор2001Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2003-4/17009 (2). Добавить в подборку (удалить)
	5.		КнигаМатематическая модель процесса электрохимической заточки иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, В.В. КарташевКарташев, Владимир Алексеевич -- АвторКарташев, В. В. -- Автор2007Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2007-4/20234 (2). Добавить в подборку (удалить)
	6.		КнигаЗондовые нанотехнологии в электронике : В. НеволинНеволин, Владимир Кириллович -- Автор2005Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2005-5/9668 (4). Добавить в подборку (удалить)

Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru