Описание RUSMARC Карточка

Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018. Вып. 2: [Верификация и тестирование | Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС]

- 175 экз.978-5-94627-159-2 (вып.2)/[КН-П-18-070217]/русский (rus)/английский (eng)/[Верификация и тестирование Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС] .[Верификация и тестирование Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС].[Верификация и тестированиеПроектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС]., 2018 ( ). - 2018. - XI, 187 с. : ил., табл., цв. ил.[Верификация и тестированиеПроектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС]. 2018 .
     Часть текста на англ. яз. - Библиогр. в конце ст. - Имен. указ. авт. ст.: с. 185-186. Библиогр. в конце ст. Имен. указ. авт. ст.: с. 185-186.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 : [(МЭС-2018)] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, [1-5 октября 2018 года] : сборник трудов / [Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наукВып. 2Цифровые сверхбольшие интегральные схемы -- Техническая диагностика -- Съезды, совещания и т.п/Цифровые сверхбольшие интегральные схемы -- Проектирование -- Съезды, совещания и т.п/З844.15-082.051я431(2)/З844.15-02я431(2)/