Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур, учебное пособие, для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике"
2006-3/22726 2006-3/22726 - 300 экз.5-7256-0401-2/[2006-41371]/русский (rus)/Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике" / Е.С. Анфалова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т).Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике" / Е.С. Анфалова.Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике".Москва/МИЭТ/, 2005 ( ). - МИЭТ, 2005. - 148 с. : ил. ; 20 см.Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учебное пособие : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике". Москва, 2005 .
Библиогр.: с. 146 (7 назв.). Библиогр.: с. 146 (7 назв.).Полупроводники многослойные -- Параметры -- Измерение -- Учебные издания для высших учебных заведений/Полупроводники -- Параметры -- Измерение -- Учебные издания для высших учебных заведений/З843.306-1-7с.я73-1/З852-016я73-1/
Библиогр.: с. 146 (7 назв.). Библиогр.: с. 146 (7 назв.).Полупроводники многослойные -- Параметры -- Измерение -- Учебные издания для высших учебных заведений/Полупроводники -- Параметры -- Измерение -- Учебные издания для высших учебных заведений/З843.306-1-7с.я73-1/З852-016я73-1/