Описание RUSMARC Карточка

Надежность микроэлектронных схем и элементов, Сб. науч. тр.

82-3/10289 русский (rus)/Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сб. науч. тр. / АН УССР, Ин-т полупроводников ; [Отв. ред. М.М. Некрасов, В.Г. Литовченко].Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сб. науч. тр. / АН УССР, Ин-т полупроводников.Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сб. науч. тр.Киев/Наукова думка/, 1982 ( ). - Наукова думка, 1982. - 207 с. : граф. ; 20 см.Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сб. науч. тр. Киев, 1982 .
     Библиогр. в конце работ. Библиогр. в конце работ.Некрасов, Михаил Макарович, Редактор /Институт полупроводников (Киев)/
Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru