Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н.А. Конева, Т.В. Черкасова, Л.И. Тришкина [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный архитектурно-строительный университет", Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет", Межгосударственный и координационный совет по физике прочности и пластичности материалов
Другие варианты заглавия: : Электронно-микроскопические методы измерения их параметровЯзык: русский.Выходные данные: Новокузнецк : Издательский центр СибГИУ, 2019Физическая характеристика: 135 с. : ил., табл. ; 21 см.ISBN: 978-5-7806-0525-6 Серия: Серия "Фундаментальные проблемы современного материаловедения" Библиография: Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.).Предметная рубрика - Тема: Металлы -- Кристаллы -- Дислокация -- Исследование -- Электронно-микроскопические методы -- Учебно-методические пособия | Конденсированное состояние вещества -- Дислокационная теория -- Учебно-методические пособия | Конденсированное состояние вещества -- Структура -- Учебно-методические пособияДругие классификации: К202.2я7-1 ; В36я7-1 ; В371.2я7-1Коллекция: НБР ; Национальная библиография Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр.: с. 127-135 (84 назв.)