Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты / Пер. с англ. Ю.М. Гальперина и др. ; Под ред. [и с предисл.] В.Л. Гуревича
Язык: русский.Выходные данные: М. : Мир, 1985Физическая характеристика: 304 с. : ил. ; 21 см.Примечания: Перевод изд.: Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo (Berlin etc., 1983).Библиография: Библиогр.: с. 9 (19 назв.), 289-297; Предм. указ.: с. 298-300.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд научного зала литературы по технике | Нз В379/Б-912 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Выбыл из библ.(вообще) | 1-458558 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 86-5/2210 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5943483-10 |
Перевод изд.: Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo (Berlin etc., 1983)
Библиогр.: с. 9 (19 назв.), 289-297
Предм. указ.: с. 298-300