Измерение глубины рельефа фазовых киноформных структур / Зилинг К.К., Солдатенков И.С., Терпугов Н.В.
Язык: русский.Выходные данные: Новосибирск : Ин-т физики полупроводников, 1988Физическая характеристика: [1], 25 с. : ил. ; 19 см.Серия: Препринт ; № 28Библиография: Библиогр.: с. 25.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 89-4/3962 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5709817-10 |
Библиогр.: с. 25