Ваш поиск дал 8 результатов

Результаты поиска
	1.		КнигаАкустоэлектроника и физическая акустика твердого тела : XV всесоюз. конф. (Ленинград, 4-8 июня 1991 г.) : Тез. докл.1991-Тома: Показать записиНаличие: Нет доступных экземпляров : Добавить в подборку (удалить)
	2.		КнигаXIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел РЭМ - 2015 и 3-я школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", г. Черноголовка, 1-4 июня 2015 г. : [тезисы докладов]Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел 19 (2015) 2015Наличие: Нет доступных экземпляров : Добавить в подборку (удалить)
	3.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тез. докл. Второго науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / [Сост. В.А. Ткаль]2004Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2004-8/2228 (2). Добавить в подборку (удалить)
	4.		КнигаXII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'2001 : Тез. докл., 4-6 июня 2001 г.Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел 12 (2001)2001Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2002-3/9710 (2). Добавить в подборку (удалить)
	5.		КнигаXVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г. : РЭМ-2011 : тезисы докладовРоссийский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел 17 (2011)2011Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2011-3/24178 (2). Добавить в подборку (удалить)
	6.		КнигаXI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99, июнь 1999 г. : Тез. докл.Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел 11 (1999)1999Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 99-3/15892 (1). Добавить в подборку (удалить)
	7.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных : (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев]2007Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2007-8/2712 (2). Добавить в подборку (удалить)
	8.		КнигаСовременные методы анализа дифракционных данных : (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : программа и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22-25 мая 2006 г. / [сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев]2006Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 2006-8/2147 (2). Добавить в подборку (удалить)

Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru